測試模式1
加壓模式:施加按指定升壓斜率不斷增加的壓力，過程中實時監(jiān)測，記錄測試對象失效時的數(shù)據(jù);
1)、防爆閥泄漏測試:上位機軟件通過伺服閥動態(tài)控制輸出壓力對防爆閥施壓，同時使用高精度壓力傳感器，實時采集防爆閥另- -側壓力，實時監(jiān)測防爆閥狀態(tài)，并實時與上位機通訊，記錄數(shù)據(jù)并繪制動態(tài)曲線圖，防爆閥泄漏后，立即截止壓力輸出，并記錄數(shù)據(jù)
2)、防爆閥爆破測試:上位機軟件通過伺服閥動態(tài)控制輸出壓力對防爆閥施壓，同時使用高精度壓力傳感器，實時采集輸出氣壓，實時監(jiān)測防爆閥狀態(tài)，并實時與上位機通訊，記錄數(shù)據(jù)并繪制動態(tài)曲線圖，防爆閥打開后，立即截止壓力輸出，并記錄數(shù)據(jù)
3)、負極SSD翻轉測試:上位機軟件通過伺服閥動態(tài)控制輸出壓力對產品施壓，同時使用高精度壓力傳感器，實時采集輸出氣壓并實時與上位機通訊，記錄數(shù)據(jù)并繪制動態(tài)曲線圖,使用高度AD結合I/O模組，高速采集，實時監(jiān)測頂蓋VS負極電阻狀態(tài)，當檢測電阻由絕緣(>1MQ)轉化為小電阻(<10m2)時，停止測試，并記錄數(shù)據(jù)
4)、正極SSD翻轉測試:上位機軟件通過 伺服閥動態(tài)控制輸出壓力對產品施壓，同時使用高精度壓力傳感器，實時采集輸出氣壓并實時與，上位機通訊，記錄數(shù)據(jù)并繪制動態(tài)曲線圖,使用高度AD結合I/O模組，高速采集，實時監(jiān)測頂蓋VS正極電阻狀態(tài)，當檢測電阻由絕緣( 10k~100kS2)轉為(<10m2)時，停止測試，并記錄數(shù)據(jù)
5)、CID翻轉測試:上位機軟件通過伺服閥動態(tài)控制輸出壓力對產品施壓，同時使用高精度壓力傳感器，實時采集輸出氣壓并實時與上位機通訊，記錄數(shù)據(jù)并繪制動態(tài)曲線圖，使用高度AD結合I/O模組，高速采集，實時監(jiān)測負極VS正極電阻狀態(tài)，當檢測電阻由(<10mQ) 轉為(>200MQ)時，停止測試，并記錄數(shù)據(jù)
6)、單向閥泄漏:上位機軟件通過伺服閥動態(tài)控制輸出壓力對產品施壓，同時使用高精度壓力傳感器，實時采集防爆閥另- -側壓力， 實時監(jiān)測防爆閥狀態(tài)，并實時與上位機通訊，記錄數(shù)據(jù)并繪制動態(tài)曲線圖，防爆閥泄漏后(壓力上升，判定標準可設定)，立即截止壓力輸出，并記錄數(shù)據(jù).
7)、以上測試模式，可單選，可組合測試;
測試模式2
單向呼吸:施加單路變化的壓力，對被測對象交替加壓，過程中實時監(jiān)測,記錄測試對象失效時的數(shù)據(jù);
測試壓力波形可 編輯，方波、三角波、梯形波、鋸齒波、自定義階梯波形等可調整，測試波形可單選，可組合;
具備防爆閥泄漏測試、防爆閥爆破測試、負極SSD翻轉測試正極SSD翻轉測試、CID 翻轉測試、單向閥泄漏測試方法，詳情參閱測試模式1
測試模式3
雙向呼吸:施加兩路交替變化的壓力，對被測樣品雙面交替加壓(常用于防爆閥測試及模擬電芯測試)，過程中實時監(jiān)測，記錄測試對象失效時的數(shù)據(jù);
測試壓力波形可 編輯，方波、三角波、梯形波、鋸齒波、自定義階梯波形等可調整，測試波形可單選，可組合:
具備防爆閥泄漏測試、防爆閥爆破測試、負極SSD翻轉測試正極SSD翻轉測試、CID 翻轉測試、單向閥泄漏測試方法，詳情參閱測試模式1
測試模式4
自動保壓:施加恒定壓力，并設置保持時間，測試過程實時監(jiān)測，以此評定被測樣品機能;
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